diffraction

X射线衍射法（X-ray diffraction（XRD））是通过样品的衍射图谱，获得样品的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。因此，该方法主要用于金属材料的定性和定量分析以及测定单晶取向和多晶的结构