dispersive

粉体之表面特性对粉体的物性表现、分散特性与光学行为有着显著的影响。本技术究系利用扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscopy SEM)、X光能量色散光谱(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)、X光粉末绕射仪(X-ray Diffraction Spectroscopy)、逆向气相层析-表面能分析仪(Inverse Gas Chromatography-Surface Energy Analyzer IGC-SEA与吸油量标准检测法量测，如: 粉体结构与型态、成分与晶体结构、比表面积与吸油量、粉体表面能与酸碱特性…等等。建构粉体表面特性分析技术，提供粉体混合分散配方与制程参考，加速粉体分散液与墨水的开发时程

TES 超导微量热X射线能谱仪，配备超导体相变热辐射阵列侦测器，不需冷冻剂 (液态氮) MICA-1600 超导微量热X射线光谱仪，是一部能够用来执行奈米级微量分析的仪器，它结合了能量色散光谱 (EDS Energy Dispersive Spectroscopy) 与波长色散光谱 (WDS Wavelength Dispersive Spectroscopy) 的优点，提供超高分辨率的分析能力。 与场发射电子显微镜 (如 Hitachi S-4800) 组合时，让原本被减弱的X射线，还是能够被仪器的超导体相变热辐射侦测器 (TES Superconducting Transition Edge Sensor)所侦测。让本仪器可结合场发射电子显微镜，来分析半导体元件的结构，解析叠线，侦测微量元素，以及在低能量射线下分析物质细微的特性

粉体之表面特性对粉体的物性表现、分散特性与光学行为有着显著的影响。本技术究系利用扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscopy SEM)、X光能量色散光谱(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)、X光粉末绕射仪(X-ray Diffraction Spectroscopy)、逆向气相层析-表面能分析仪(Inverse Gas Chromatography-Surface Energy Analyzer IGC-SEA与吸油量标准检测法量测，如: 粉体结构与型态、成分与晶体结构、比表面积与吸油量、粉体表面能与酸碱特性…等等。建构粉体表面特性分析技术，提供粉体混合分散配方与制程参考，加速粉体分散液与墨水的开发时程