scattering

1.请问XRD与XRF的应用与用途上有什么不同?? mature male XRD: X-RAY Diffraction (X光绕射) 用来做材料的晶体结构 绕射的情形与晶格大小，光的波长，与入射、绕射角度有关，入射光与绕射光的会有光程差，相位一致，光的强度就会加成，反之，则会削落，借着这样的关系，我们可以得知材料的晶格种类而算出是哪种元素及元素本身有什么样的特性。 XRF: X-RAY Fluorescence (X光萤光分析) 系利用X-光束照射试片以激发试片中的元素，当原子自激发态回到基态时，侦测所释放出来的萤光，经由分光仪分析其能量与强度后，可提供试片中组成元素的种类与含量，具有快速、非接触、非破坏性及多元素分析等特点；然而X-光萤光分析仪分析的灵敏度受到试片基质散射效应及入射X-光与试片基座反应产生的制动幅射的限制，尔后逐渐发展出全反射X-光萤光分析仪，才大幅提高X-光萤光分析仪的灵敏度。 XRF是一项非破坏性的元素定性和定量分析的技术，其原理是根据被入射X光提升到激发态的样品，在回复到基态时，所放射的X光萤光，具有因元素种类和含量不同而有不同的波长X光射线的特性

辽仪牌GSL-2000激光颗粒分布测量仪是本公司在成型产品GSL-101BL基础上研制的改进型产品，器测量范围为0.08～1100μm，可以测量D50从100～200nm直至700～800μm的各种样品，测量范围宽，测量结果准确，稳定性良好，是一款具备极高性价比的激光粒度测量仪。 测量原理为全程Mie Scattering理论及Fraunhofer Diffraction理论，结合本公司独特的自由模式计算算法，精密的机械、光学系统设计、先进的电子元器件，在理论和性能上保证了测量结果的准确性。 前向散射光接收采用本公司专利技术交叉扇形大尺寸主光电探测阵列，共70个采样通道、高灵敏度双侧向光电探测阵列6个通道，后向4个通道，散射光最大接受角度为137°，使单透镜测量范围达0.08～1100μm，测量范围宽，可以满足大多数用户对粒度测量范围的需要