microscopy

—可获得样品的各种信息，实现高通量分析— 2018年7月31日，日本株式会社日立高新技术公司（TSE：8036，日立高新技术）于7月31日正式推出肖特基场发射扫描电镜SU7000，它缩短了通过采集多种信号获取样品多种信息的时间，真正实现了高通量的观察与分析。 扫描电子显微镜（SEM）可通过检测样品激发出的二次电子、背散射电子、X射线等信号，获得从微细结构到组成成分等各种信息，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生物、材料等诸多领域。随着SEM的应用范围在不断扩大，对观察时间的缩短、信号的迅速高效采集提出了更进一步的需求

Axiocam 305 mono是一款500万像素的CMOS显微镜数码相机。由于具有高动态的范围，您可以获得各种高对比度和强度的图像。黑色背景可以帮助您看到更精细的结构细节

粉体之表面特性对粉体的物性表现、分散特性与光学行为有着显著的影响。本技术究系利用扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscopy SEM)、X光能量色散光谱(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)、X光粉末绕射仪(X-ray Diffraction Spectroscopy)、逆向气相层析-表面能分析仪(Inverse Gas Chromatography-Surface Energy Analyzer IGC-SEA与吸油量标准检测法量测，如: 粉体结构与型态、成分与晶体结构、比表面积与吸油量、粉体表面能与酸碱特性…等等。建构粉体表面特性分析技术，提供粉体混合分散配方与制程参考，加速粉体分散液与墨水的开发时程

美国Argonne国家实验室研发出一个新的元件 可以使X光聚焦聚得更锐利. 由于X光的能量很高 所以较难聚焦. 若以反射的方式 其反射角仅限于很小的角度(小于十度). 若以折射的方式 其折射率又非常接近1 很难制造出一个高效率的透镜. 而若以绕射的方式 其所需要的变化宽度的厚光栅又不容易制造. Argonne元件是使用绕射的方式来制造X光透镜. 它是在基板上交替沉积厚度逐渐减少的硅层及金属层 并切割成适当的厚度. 当X光照在这样的结构时 它们就好像看到了透明与不透明交替的光栅图样(也就是线性波带片linear zone plate). Argonne元件之所以可以成功地将X光聚焦 是因为透过沉积的方式每一层的位置可以被控制在奈米级的精准度 而其宽度也可被切割成任意的长度(微米等级). 至今的测试结果 一片这样的波片板 稍微倾斜于同步辐射光源所发出的X光 即可以使两万电子伏特的X光聚成只有30奈米宽的线 比之前的方法所可得到结果好太多了. 根据Argonne的研究员Brian Stephenson表示 这种称为Multilayer Laue Lens的元件在理想的情况下 应可以将X光聚成小于1奈米宽的点. 而这种X光透镜的可能可以被用在全场显微术(full-field microscopy )(用来增强光影像的讯号)或扫描探针显微术(Scanning Probe Microscopy). Zone plate

目前，电子显微镜技术(electron microscopy)已成为研究机体微细结构的重要手段。常用的有透射电镜(transmission electron microscope，TEM)和扫描电子显微镜(scanning electron microscopeSEM)。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像

要使用“奈米微小制造技术”来制作我们所需要的结构，步便是先要能够“看到原子”，目前人类还无法用肉眼直接看到原子，因此都是使用间接的方式，利用仪器的辅助来观察原子，这种仪器称为“电子硬度计(EM：Electron Microscopy)”，电子硬度计依照原理的不同又可以分为数种： 使用钨丝来发射电子束(热游离)，当电子束照射到物体表面时，就如同光束照射到物体表面，当物体表面凸出时反射电子束较多，故侦测器侦测到较强的讯号(比较亮)，如图 4-54(a)所示；当物体表面凹下时反射电子束较少，故侦测器侦测到较弱的讯号(比较暗)，如图4-54(b)所示，同学们一定有这样的经验，地上的凹洞比较暗，就是因为太阳光照射到凹洞内反射的光比较少的缘故。将这些强弱的讯号画成二度空间的灰阶图形，就可以得到如图4-54(c)所示的扫描式电子硬度计(SEM)照片(本书前面所有的灰阶照片均为扫描式电子硬度计照片)，扫描式电子硬度计(SEM)的分辨率很高，可以用来观察大约100nm(奈米) 的结构工具硬度计，但是只能观察物体表面的高低起伏，所以表面平整的物体无法使用。

通过样品台和电子光学系统的自动控制来实现图像的无缝拼接。 通过控制电镜的样品台或电子光学系统，DigitalMontage® 软件可获取大量图像并将它们无缝拼接在一起。合成的图像分辨率之高、视野之大，是最高分辨率的照相系统也难以企及的

－实现简便和高效的操作，广泛助力产业发展和科研进步－ 台式显微镜"TM4000" （以下简称"TM4000" ）及"TM4000Plus" （以下简称"TM4000Plus" ）由日立高新技术公司（执行董事兼总裁：宫崎正启/以下简称为日立高新技术）自主研发，并于7月25日起向日本及海外市场发售。这两种机型可简化日常工作，提高工作效率，为客户的研究开发和制造业的分析业务提供帮助。 台式显微镜 作为扫描电子显微镜（SEM）在生物技术和材料等领域得到广泛应用

－实现简便和高效的操作，广泛助力产业发展和科研进步－ 台式显微镜"TM4000" （以下简称"TM4000" ）及"TM4000Plus" （以下简称"TM4000Plus" ）由日立高新技术公司（执行董事兼总裁：宫崎正启/以下简称为日立高新技术）自主研发，并于7月25日起向日本及海外市场发售。这两种机型可简化日常工作，提高工作效率，为客户的研究开发和制造业的分析业务提供帮助。 台式显微镜 作为扫描电子显微镜（SEM）在生物技术和材料等领域得到广泛应用

电子显微镜中心具有完整的空间规划（准备室、TEM室、STEM室、SEM室）及设备（TEM、STEM及EDX、SEM、超薄切片机及相关设备），供生物、医学、材料、电子及其他各领域探讨超微细结构及分析。本中心提供试样处理实验室，供研究人员从样品处理、观察、分析到照相均可在本中心完成，除了做试样超微细构造之观察，亦可同时做超微细部位之元素分析，是一完整规划的电子显微镜中心。 TEM室、STEM室、SEM室、标本准备室