二次电子

台式扫描电子显微镜观察生物试样会不会被污染？ 台式扫描电子显微镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。 台式扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理，采用不同的信息检测器，使选择检测得以实现

—可获得样品的各种信息，实现高通量分析— 2018年7月31日，日本株式会社日立高新技术公司（TSE：8036，日立高新技术）于7月31日正式推出肖特基场发射扫描电镜SU7000，它缩短了通过采集多种信号获取样品多种信息的时间，真正实现了高通量的观察与分析。 扫描电子显微镜（SEM）可通过检测样品激发出的二次电子、背散射电子、X射线等信号，获得从微细结构到组成成分等各种信息，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生物、材料等诸多领域。随着SEM的应用范围在不断扩大，对观察时间的缩短、信号的迅速高效采集提出了更进一步的需求

三坐标测量机（CMM）是近50年来发展起来的一种新型高效精密测量仪器。它的出现，一方面是由于自动机床、数控机床的高效加工，以及越来越多形状复杂的零件的加工，这些零件需要快速可靠的测量设备与之匹配。另一方面，电子技术、计算机技术、数控技术和精密加工技术的发展为三坐标测量机的生产提供了技术基础

三坐标测量机（CMM）是近50年来发展起来的一种新型高效精密测量仪器。它的出现，一方面是由于自动机床、数控机床的高效加工，以及越来越多形状复杂的零件的加工，这些零件需要快速可靠的测量设备与之匹配。另一方面，电子技术、计算机技术、数控技术和精密加工技术的发展为三坐标测量机的生产提供了技术基础

使得透射电子显微镜的功能进一步的拓宽，尤其是可以针对同一微区位置进行形貌、原位的电子衍射分析(Diff)早期的透射电子显微镜功能主要是观察样品形貌、低温台和拉伸台、背散射电子像BED)和透射扫描像(STEM)、成分(价态)的全面分析，透射电子显微镜还可以在加热状态。具有能将形貌和晶体结构原位观察的两个功能是其它结构分析仪器(如光镜和X射线衍射仪)所不具备的，发展到还可以进行原位的成分分析(能谱仪EDS、成分的变化。 透射电子显微镜增加附件后，其功能可以从原来的样品内部组织形貌观察(TEM)、晶体结构、特征能量损失谱EELS)

X射线荧光光谱仪应用于水泥、钢铁、建材、石化、有色、硅酸盐、煤炭、高岭土、耐火材料、科研、环保等行业，是一种中型、经济、高性能的光谱仪。采用固定通道，减少测量时间；固定通道尤其适用于荧光产额较低的轻元素和微量元素的测定，以提高分析精度和灵敏度。X荧光光谱仪采用操作方便，用户习惯的智能化软件，提供全自动分析操作，实现快速定性、定量分析和半定量分析

MICROLAB 350 欧杰电子能谱仪(Auger Electron Spectroscopy AES)是一种分析材料表面组织形态及化学结构的仪器，可适用于电机、机械、电子、材料、化学、化工等研究领域。 AES是利用一电子束为激发源，游离表面原子内层能阶的电子使外层能阶电子填补内层能阶所产生的电洞，同时释出能量进而传输给同原子的外层能阶电子，造成接受能量的电子产生激发游离；此时，游离之电子称为欧杰电子．欧杰电子具有特殊的动能。一般都依据其动能大小而判别其材料表面元素的种类

目前，电子显微镜技术(electron microscopy)已成为研究机体微细结构的重要手段。常用的有透射电镜(transmission electron microscope，TEM)和扫描电子显微镜(scanning electron microscopeSEM)。与光镜相比电镜用电子束代替了可见光，用电磁透镜代替了光学透镜并使用荧光屏将肉眼不可见电子束成像

日立扫描电子显微镜是利用精细聚焦的电子束照射在样品表面，电子束与日立扫描电子显微镜样品相互作用产生各种信号，其中包括二次电子、背散射电子、特征X射线等不同能量的光子，这些信号经相应的探测器接收，用于研究各种材料的微观形貌;配上能谱仪、波谱仪等附件，可对材料元素成分进行分析。 日立扫描电镜的附件常见的是X射线能谱仪，在各种材料的分析中起着不可或缺的作用。 日立扫描电镜结合能谱仪使用，能进行材料微区元素种类与含量的分析

coxem台式扫描电镜为什么要喷金？ coxem台式扫描电镜是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。从原理上讲，扫描电镜是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息