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针对未来的高容量/记忆单元密度所需的微缩尺寸磁性内存单元进行
针对未来的高容量/记忆单元密度所需的微缩尺寸磁性内存单元进行研究。并发展相关所需的制程技术及改善磁性内存的磁性薄膜材料与结构。 ‧ 自旋磁性内存,磁阻变化率(MR Ratio)≧40%;等效阻值(RA)≦20 Ω-μm^2;MTJ元件短边≦0.1μm; 临界写入电流密度(Jco)≦3E6A/cm^2 工研院电光所自2000年深次微米计划完成阶段性任务后,即积极寻找具市场潜力之前瞻技术题目,于2002年选择新世代非挥发性记亿体投入前瞻研究,MRAM为其中一个题目,因MRAM技术符合我国业界需求,于2003年启动关键计划,同时也与业界开始MRAM合作计划,在计划期间陆续产出多项突破创新之技术,并获国际肯定,获刊于电子领域最著名之期刊 ( 2篇IEDM,3篇ITC ),并于2006年启动第二代MRAM (Spin-RAM ) 之构想可性前瞻技术,仅花费一年的期间利用元件结构设计将写入电流密度从20 MA/cm2降至2 MA/cm2,降幅达10倍,逼近国际水准(国际领先指标为1MA/cm2)