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与纯半导体器件不同,新微机电系统 mems的开发总是需要新的
与纯半导体器件不同,新微机电系统 (MEMS)的开发总是需要新的生产工艺。至少工艺方法和模块必须修改,因为目前还没有能应用于所有新的微机械组件的通用标准方法,这在半导体开发中不足为奇。 若要使主要由机械性能决定的结构元件能够正常工作,无论是优化系统设计还是工艺设计,都十分必要
通过新一代的光学速度和长度传感器prospeed® lsv-
通过新一代的光学速度和长度传感器ProSpeed® LSV-2100,您可以进行双向测量并检测停滞状态。凭借ProSpeed®的增强型连接性以及长达3米的扩展工作距离,您可以随时随地可靠地控制生产过程。 Polytec 的激光表面速度计专用于高精度测量恶劣条件下的速度和长度