haadf

通过一系列不同倾斜角获得样品的二维平面成像信息，使用软件处理后可获得三维立体成像信息。直接使用3mm铜网样品进行观察，支持扫描透射模式下的高角环形暗场成像(HAADF-STEM)高分辨分析。 在普通三维重构样品杆的基础上升级而来，采用子弹头单轴360°旋转方式，全角度得到样品更多二维成像信息，避免锲形信息丢失