通过一系列不同倾斜角获得样品的二维平面成像信息，使用软件处理后可获得三维立体成像信息。直接使用3mm铜网样品进行观察，支持扫描透射模式下的高角环形暗场成像(HAADF-STEM)高分辨分析。

在普通三维重构样品杆的基础上升级而来，采用子弹头单轴360°旋转方式，全角度得到样品更多二维成像信息，避免锲形信息丢失。

可将最多4个样品同时置入透射电镜中，与市面常见的3孔样品杆相比，大幅提高透射电镜的使用效率。全新的结构设计及超高精度的旋钮换样方式，帮助降低漂移率，提高成像质量。

可确保锂电类等容易和空气中水、氧等发生反应的敏感样品在从制样的手套箱转移到电镜的过程中不接触空气，保持样品的原始状态，避免氧化或内部结构发生变化。

全新的结构设计及超高精度的倾转控制方式，可以实现不同角度晶体微观结构和化学状态的高分辨成像观测。