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2012年第7届IEEE国际会议奈米/微米工程及分子系统 IEEE-NEMS 2012 出国期间： 第七届IEEE国际会议微米/奈米工程和分子系统（NEMS）的。这是第一个在日本举行IEEE-NEMS的会议。今年会议包括3个会议讲座，讲座邀请，181位口头报告和104位海报介绍

出国期间： 本研讨会系提供技术性贸易障碍协定进阶训练，并经技术性贸易障碍之独立专业官方职务和专家指导，本研讨会内容将涵盖技术性贸易障碍协定的主要原则与规范、技术性贸易障碍委员会工作、审视最近技术性贸易障碍的争端及亚洲地区执行技术性贸易障碍相关议题作探讨。 本次研讨会技术性贸易障碍协定的议题，从标准、技术性法规到符合性评鉴程序，现在均就标准与技术性法规针对资讯透明化、采用国际标准、良好法规作业及技术性贸易障碍相关争端等部分要求会员国采取一致的作法，而符合性评鉴程序部分，则从列检范围（包括判定依据）、列检方式、指定实验室管理、证书检查、边境管制、市场监督、违规处理等议题，因涉及会员国司法管辖权、民情风俗、技术能力、基础架构等因素而不易产生一致的做法。 未来惟有透过各会员国主管机关间更紧密的合作，采取更创新的方法，使得符合性评鉴程序简化，以减少主管机关、指定实验室及业者的负担