安立

Anritsu 安立知推出计量级设计及制造的 W1 同轴元件，可为高频测量提供精准的性能及可重复性。新系列由 W1 互连功率分配器、功率分配器、定向耦合器及衰减器所组成，除了可消除测量复杂性，还可缩短量测设定时间并提高精度，使其成为毫米界面解决方案的卓越替代方案。 与其他基于需波导界面的频状波导频率的解决方案不同，W1 元件不受频带限制，并且支援 DC 至 110 GHz 的频率范围

随着物联网 (IoT) 应用逐渐渗透至打印机与电视等家用电器、汽车、工业机械以及感测器等领域，WLAN 与蓝牙通讯应用正快速扩展。为了确保这些设备的通讯品质，采用在 OTA 环境中测试天线特性及收发器 (TRx) 灵敏度的量测作业不容忽视。 另一方面，WLAN 及蓝牙都是采用 2.4-GHz 与 5-GHz 频段的常用短距离无线通讯技术，许多装置同时使用这些相同频段，导致难以建立一个尽可能让干扰降至最低的测试环境

个人简介：安立楠， 1996年博士毕业于美国里海大学（Lehigh University）并获博士学位，1996年至2000年在美国康奈尔大学和科罗拉多大学从事博士后研究。主要研究方向包括辅助材料加工与制造、纳米复合材料，聚合物前驱体陶瓷、高温传感、能源材料与装备。其在前驱体陶瓷的功能特性研究以及用该材料制备高温传感器方面进行了开拓性的工作，是该领域国际公认的权威学者之一

Anritsu 安立知提供一系列完整的 LTE 测试设备，协助您确认 LTE 设备和网络的效能与品质。MD8430A 讯令测试仪是首款完整的 LTE-Advanced 基地台模拟器。另外，MF6900A 衰减模拟器与 MD8430A 基地台模拟器搭配运用，能打造出可复制的衰减环境模拟，这对评估 LTE-Advanced 非常重要