本计划将建构实验软硬件，开发基于频率或温度微分电容谱的Arrhenius变换和匹配 方法，应用于Si/III-V缺陷; 我们提议研究Arrhenius变换和匹配方法。该方法基于基本的温度-频率对偶关系，通过在频率，温度，活化能，尝试逃逸频率，这四个参数之间的相互变换；并通过匹配二维温度-频率空间中导纳谱的曲率来提取活化能和尝试逃逸频率。本计划另外开发基于原始电容或电导谱的Arrhenius变换和匹配方法，应用于III-V/CIGS缺陷；最终将已开发的Arrhenius变换和匹配方法用于Perovskite/CdTe/CIGS。