表面电势
描述：美国apt开尔文探针：适用于四线法测试
描述：美国APT开尔文探针：适用于四线法测试 ，以减小线阻和接触电阻对测试的影响 ，保证小电阻的测试准确性。另外 ，一些高频测试 ，比如150M左右 ，也可以采用这个。 开尔文探针是一种基于振动电容的非接触无损气相环境金属表面电位的测量技术，用于测量材料的功函数(Work Function)或表面势(Surface Potential)
描述：美国APT开尔文探针：适用于四线法测试 ，以减小线阻和接触电阻对测试的影响 ，保证小电阻的测试准确性。另外 ，一些高频测试 ，比如150M左右 ，也可以采用这个。 开尔文探针是一种基于振动电容的非接触无损气相环境金属表面电位的测量技术，用于测量材料的功函数(Work Function)或表面势(Surface Potential)