sipdr

描述：SIPDR电阻率测试夹具用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗，以及用于半导体芯片的电导率的非接触式测量；可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗Rs <20kΩ/sq的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。 SIPDR电阻率测试夹具SiPDR（单柱介电谐振器）用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗，以及用于半导体芯片的电导率的非接触式测量；可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗Rs<20kΩ/sq的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。 SIPDR电阻率测试夹具对于半导体芯片，电阻率测量的上限约为1000Ωcm