etem

透射电子显微镜是一种提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操控和电学测量。 原位样品杆适合ETEM和TEM中的原位高温实验，其对功率消耗和样品热漂移进行了优化以获得好的性能