nanousaf

Applied Nanotools为最高分辨率应用提供X射线，EUV和可见光显微镜的校准标准。 这些高质量的光学元件包括各种校准元件，可在以下SEM图像中看到： ANT校准标准设计用于具有纳米级特征的X射线成像系统的最高分辨率要求。适用于软X射线和硬X射线机制以及光学设置