背散射

台式扫描电镜可用于测量亚微米或纳米尺度的样品；从试表面形貌获得多方面资料，在扫描电镜中，不仅可以利用入射电子和试样相互作用产生各种信息来成象，而且可以通过信号处理方法，获得多种图象的特殊显示方法，还可以从试样的表面形貌获得多方面资料。因为扫描电子象不是同时记录的，它是分解为近百万个逐次依此记录构成的。因而使得高分辨率台式扫描电镜除了观察表面形貌外还能进行成分和元素的分析，以及通过电子通道花样进行结晶学分析，选区尺寸可以从10μm到3μm

山西桌面电镜作为一种有效的显微结构分析工具，可以对各种材料进行多种形式的表面的观察与分析。它具有分辨率高、景深长、成像富有立体感等优点。利用扫描电镜的图像研究法分析显微结构，其内容丰富、方法直观

扫描式电子显微镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是主要的成像信号

—可获得样品的各种信息，实现高通量分析— 2018年7月31日，日本株式会社日立高新技术公司（TSE：8036，日立高新技术）于7月31日正式推出肖特基场发射扫描电镜SU7000，它缩短了通过采集多种信号获取样品多种信息的时间，真正实现了高通量的观察与分析。 扫描电子显微镜（SEM）可通过检测样品激发出的二次电子、背散射电子、X射线等信号，获得从微细结构到组成成分等各种信息，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生物、材料等诸多领域。随着SEM的应用范围在不断扩大，对观察时间的缩短、信号的迅速高效采集提出了更进一步的需求

—可获得样品的各种信息，实现高通量分析— 2018年7月31日，日本株式会社日立高新技术公司（TSE：8036，日立高新技术）于7月31日正式推出肖特基场发射扫描电镜SU7000，它缩短了通过采集多种信号获取样品多种信息的时间，真正实现了高通量的观察与分析。 扫描电子显微镜（SEM）可通过检测样品激发出的二次电子、背散射电子、X射线等信号，获得从微细结构到组成成分等各种信息，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生物、材料等诸多领域。随着SEM的应用范围在不断扩大，对观察时间的缩短、信号的迅速高效采集提出了更进一步的需求

—可获得样品的各种信息，实现高通量分析— 2018年7月31日，日本株式会社日立高新技术公司（TSE：8036，日立高新技术）于7月31日正式推出肖特基场发射扫描电镜SU7000，它缩短了通过采集多种信号获取样品多种信息的时间，真正实现了高通量的观察与分析。 扫描电子显微镜（SEM）可通过检测样品激发出的二次电子、背散射电子、X射线等信号，获得从微细结构到组成成分等各种信息，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生物、材料等诸多领域。随着SEM的应用范围在不断扩大，对观察时间的缩短、信号的迅速高效采集提出了更进一步的需求

LED发光原材料和器件的原材料包括衬底材料砷化镓单晶、氮化铝单晶等。他们大部分是III-V族化合物半导体单晶，生产工艺比较成熟，已有开启即用的抛光性供货。其他原材料还有金属高纯镓、高纯金属有机物源，如三甲基镓、三乙基镓、三甲基烟、三甲基铝、高纯气体氨等

秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、*防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式场发射电镜 Phenom Pharos G2 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。 Phenom Pharos 飞纳台式场发射扫描电镜采用热场发射电子源，信噪比高，使用寿命长，保证*稳定的性能

—可获得样品的各种信息，实现高通量分析— 2018年7月31日，日本株式会社日立高新技术公司（TSE：8036，日立高新技术）于7月31日正式推出肖特基场发射扫描电镜SU7000，它缩短了通过采集多种信号获取样品多种信息的时间，真正实现了高通量的观察与分析。 扫描电子显微镜（SEM）可通过检测样品激发出的二次电子、背散射电子、X射线等信号，获得从微细结构到组成成分等各种信息，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生物、材料等诸多领域。随着SEM的应用范围在不断扩大，对观察时间的缩短、信号的迅速高效采集提出了更进一步的需求

多重光散射仪可以自动分析胶体体系的稳定性，并跟踪胶束随时间的动态尺寸变化。主机多可配置6个独立测量单元，便于节省操作时间，并可以在实验中直接比较不同样品或者同一样品的不同研究。 多重光散射仪应用多重光散射的原理，检测器所得到透射光和背散射光强度是直接由分散相的浓度（体积百分数）和平均直径（或是粒子/微滴/气泡的平均直径）决定的