feinmess

蔡司（ZEISS）工业测量（IMT）的历史源于90年前的莱比锡春季博览会。当1919年蔡司一次在世人面前展现他们全新的生产测量技术时，来自各行各业的观众们都为之震惊。 事实上，一个偶然的机会使蔡司进入了工业测量领域

蔡司（ZEISS）工业测量（IMT）的历史源于90年前的莱比锡春季博览会。当1919年蔡司一次在世人面前展现他们全新的生产测量技术时，来自各行各业的观众们都为之震惊。 事实上，一个偶然的机会使蔡司进入了工业测量领域

蔡司作为光学方面的先驱，当然需要在精密测量中集成光学技术。到1919年初，Feinmess的设计师们已经将光学技术集成到了测量仪上，由此开始设计更为先进的仪器。其中拥有80多项专利的Eppenstein在工业测量技术的发展中起到了至关重要的作用