简要描述：X荧光膜厚仪 俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值，一种无损、快速、精确的膜厚测试仪器，对金属镀层（镀金、镀锡、镀锌、镀铝、镀铅、镀银、镀镍等），广泛应用于电路板、连接器、金属丝、链接插件、引线框架、汽车零部件、半导体、电子产品、五金工具等企业中，打破了国外（例如：德国Fischer）垄断局面，在电镀行业占有
是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值，一种无损、快速、精确的膜厚测试仪器，对金属镀层（镀金、镀锡、镀锌、镀铝、镀铅、镀银、镀镍等），广泛应用于电路板、连接器、金属丝、链接插件、引线框架、汽车零部件、半导体、电子产品、五金工具等企业中，打破了国外（例如：德国Fischer）垄断局面，在电镀行业占有 一定地位，为企业提供有效解决方案。
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层（镀金、镀锡、镀锌等）
一次可同时分析多达五层镀层，快速、准确。