销售支持专家，工程物理理学士，纳米科学和纳米技术理学硕士 at Sensofar Metrology | Other articles
David 在加泰罗尼亚理工大学 (UPC) 获得学士学位，并在物理系开始了研究助理的工作。在巴塞罗那大学 (UB) 完成硕士学位后，他加入了 Sensofar，从事光学测量领域。作为销售专家，他传播 Sensofar 的光学测量知识，为我们的客户进行培训，教授他们如何挖掘我们系统的全部潜力。如果您想找他，他很可能就在我们的演示室，测量样品或进行现场演示。
在此次网络研讨会中，您将通过从接触式测针轮廓 Ra 分析转向 Sa 光学区域分析来加深对粗糙度表征的了解。
磨损、摩擦、腐蚀…我们将讨论 Sensofar 轮廓仪能够测量的可对您的摩擦学测试进行表征的参数。
了解如何快速方便地使用三合一技术来测量从样品中去除的材料量。
能够测量使用前后的表面磨损对于确保质量控制和质量保证至关重要。
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