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CTT3280F测试系统是以量产功率半导体分立器件为目标的高性能集成电路测试机，可适应于功率器件的芯片测试和成品测试主要测试品种包括MOS、IGBT、二极管、三极管等三端器件。通过与主机向连接的测试头连到针卡，实现8/16 site的并测硬件结构，主要用于多site芯片并测。 系统的主要特点如下： 1. 整机测试规格为1000V/10A最大支持16 SITE全参数并行测试； 2. 常规配置1个DUT，可并测8个管芯，最大可配置2个DUT，最大可并测16个管芯； 3. 配GPIB接口，可与UF200等主流探针台进行联机测试； 4. 测试机电源由软件控制，具有自我保护功能； 5. 软件界面以填表方式提供用户测试参数设置界面，并提供单项参数调试功能； 6. DUT盒标配CHK板进行自检校准校验； 8. 具有防呆功能，对不具备测试条件的信息能自动报警并停止测试；

在Windows在安装和使用过程中都会产生相当多的垃圾文件，包括临时文件（如：*.tmp、*._mp）日志文件（*.log）、临时帮助文件（*.gid）、磁盘检查文件（*.chk）、临时备份文件（如：*.old、*.bak）以及其他临时文件。特别是如果一段时间不清理IE的临时文件夹 “Temporary Internet Files”，其中的缓存文件有时会占用上百MB的磁盘空间。这些LJ文件不仅仅浪费了宝贵的磁盘空间，严重时还会使系统运行慢如蜗牛