随着电子产品的速度越来越快、复杂程度越来越高，它们设计、检验和调试起来正越来越复杂。设计人员必须全面检验设计，保证产品可靠运行。在发生问题时，设计人员必需迅速了解根本原因，以便解决问题。通过分析信号的模拟表示方式和数字表示方式，可以更快地找到许多数字问题的根本原因，因此，逻辑分析仪与示波器互连再加上AWG信号发生器为检验和调试数字电路提供了理想的解决方案。本讲座将为大家介绍泰克最新的TLA6000系列逻辑分析仪以及如何使用上述仪器及相应的软件套件简化，验证并调试复杂的现场总线测试，FPGA， SOC系统测试， MCU/CPU/RF等嵌入式设计.