二、用途 ：豪恩系列高低温冲击测试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

试验温度范围：S表示：-40℃～+150℃

低温槽温度范围：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃

高温槽温度范围：+60℃～+200℃，升温速率平均5℃/MIN

温度稳定时间：5MIN，常温～zuì低温度5MIN，常温～zuì高温度5MIN

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则；

13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。