KTP是一款优良的非线性晶体,但灰迹现象限制了其在高重复频率和高功率激光系统中的使用。福晶科技的抗灰迹磷酸钛氧钾(GTR-KTP)晶体比普通熔融生长的KTP晶体具有更高的抗灰迹能力。通过光热共光路干涉法,用强连续532nm绿光激光器照射晶体几分钟后其体吸收增加则可测试到灰迹现象的发生。
上图显示GTR-KTP 晶体在1064nm处的吸收仅为传统的KTP晶体的1/10。
灰迹跟踪测试:
当一束绿光(400mW 光束直径为 0.07mm 功率密度为 10KW/cm2)通过晶体时它会导致晶体红外吸收增加,这种现象就是相关的灰迹跟踪效应。下图显示了福晶公司的GTR-KTP晶体和传统的KTP晶体在1064nm处的吸收的差别。
灰迹跟踪测试后横截面的扫描结果(1064nm处):
灰迹跟踪测试后横截面的扫描结果(532nm处):
损伤阈值测试:
透射曲线(在可见光和紫外光区域):
很明显,福晶公司的 GTR-KTP晶体比传统的KTP晶体在波段350-550nm之间具有更低的吸收;我们得出的结论是福晶公司的GTR-KTP晶体比普通的熔融生长的KTP晶体具有更高的抗灰迹能力
福晶公司可提供镀制如下膜系:
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规格指标: