针对小型EUT、PCB板级或IC级的辐射发射测量，近场扫描是一种应用范围较为广泛的方法，BAT-Scanner正式基于此开发设计，是世界首款与IEC61967-1-1标准兼容的3D可视化EMI测试解决方案。

FLS 106 PCB扫描仪是一个 3 轴定位系统，结合近场探头使用，可以测量高达 20 GHz 的磁场或电场，并能通过磁场源对被测设备施加脉冲，脉冲场强高达200 mT。

ICS 105型集成电路扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。根据使用的探头情况，可在 (50x50x50) mm 的空间范围内对磁场或电场进行测量，并在电脑上显示测量结果。此外，探头可自动旋转以确定磁场的准确方向。