以上两种方法都为国家标准。在单片测量标准中有以下表述：

本标准和GB 3655(方圈法)规定的测量方法得到等同的测量结果。在两种测量方法并行的期间，两种测量方法得到的测量结果具有同等的效力。但是，在实际的测量过程中，由于两种测量方法在磁路方面是明显不同的，因而两种测量方法的结果并不完全相同。当这种情况发生时，一般还是以《方圈法》作为标准。但是，单片法在实际使用中有不可替代的作用，主要表现在以下几个方面：

单片法由于使用单张样品样品受剪切应力的影响很小，不需要退火，因此更能够反映材料的真实特性，并且节省了时间和经费。

单片法由于采用整片样品，测量结果更能够反映矽钢片的真实特性，并且样品测量后能够充分利用，因此节省了材料。

单片法由于制样简单，更利于快速或者线上(自动)测量，因此矽钢片生产商或者大量使用矽钢片的使用者更乐意接受。

三、GB/T 2522-2007 矽钢片涂层电阻测量方法(2007年6月1日实施)